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    納米掃描探針顯微鏡

    簡(jiǎn)(jiǎn)要描述:納米掃描探針顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀(guān)(guān)測樣品微區三維形貌和多相結構(納米級別);同時(shí)(shí)可對樣品表面物理化學(xué)(xué)特性進(jìn)(jìn)行研究,數值測定與分析。

    • 產(chǎn)(chǎn)品型號:
    • 廠(chǎng)(chǎng)商性質(zhì)(zhì):生產(chǎn)(chǎn)廠(chǎng)(chǎng)家
    • 更新時(shí)(shí)間:2023-11-23
    • 訪(fǎng)(fǎng)  問(wèn)(wèn)  量:1529

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    詳細介紹
    品牌其他品牌儀器種類(lèi)(lèi)原子力顯微鏡
    價(jià)(jià)格區間面議產(chǎn)(chǎn)地類(lèi)(lèi)別進(jìn)(jìn)口
    應用領(lǐng)(lǐng)域食品,化工,生物產(chǎn)(chǎn)業(yè)(yè),能源,制藥

     

    納米掃描探針顯微鏡工作模式:

    1. 標準工作模式:

    1.1 輕敲模式(Vibration mode)

    1.2 接觸模式(Contact mode)

    1.3 相位成像模式(Phase imaging)

    1.4 橫向力模式(Lateral force Microscopy LFM)

    1.5 力曲線(xiàn)(xiàn)測試(Force curve)可測楊氏模量

    1.6 納米操控 (Nanomanipulation)

    1.7 納米刻蝕 (Nanolithography)

    1.8 力矩陣模式 (Force Mapping)

    1.9 摩擦力測試 (Friction Mode)

    2. 可選工作模式:

    2.1 磁力顯微鏡模式(MFM mode)

    2.2 靜電力顯微鏡模式(EFM mode)

    2.3 導電顯微鏡模式(C-AFM mode)

    2.4 液相模式 (Liquid scan mode)

     

    AFMWorkshop是專(zhuān)(zhuān)門(mén)(mén)從事設計和制造原子力顯微鏡的專(zhuān)(zhuān)業(yè)(yè)化公司 。公司創(chuàng )(chuàng )始人是有30年原子力顯微鏡經(jīng)(jīng)驗的 Paul West博士,原子力顯微鏡教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。

    納米掃描探針顯微鏡技術(shù)(shù)參數

     

    掃描范圍:100 μm,50 μm,15μm

    Z方向范圍:17 μm,7 μm

    XY方向驅動(dòng)(dòng)分辨率:0.01 nm

    Z方向驅動(dòng)(dòng)分辨率:0.003 nm

    Z方向測量噪音水平:0.15 nm

    樣品尺寸:直徑25mm

     

     

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